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Castaldini, A. ; Calvallini, A,. ; Fraboni, B ; Méndez Martín, Bianchi ; Piqueras de Noriega, Javier | Amer Inst Physics | 1994-07-15The distribution in liquid-encapsulated-Czochralski (LEC) GaAs:Te wafers of point and complex defects has been investigated together with their influence on the minority-carrier diffusion length L. Three wafers with different Te-doping concentra[...]
