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Clemente Barreira, Juan Antonio ; Hubert, Guilaume ; Fraire, Juan ; Franco Peláez, Francisco Javier ; Villa, Francesca ; Rey, Solenne ; Baylac, Maud ; Puchner, Helmut ; Mecha, Hortensia ; Velazco, Raoul | IEEE-Inst Electrical Electronics Engineers Inc | 2018-02-01This paper presents a SEU sensitivity characterization at ultra-low bias voltage of three generations of COTS SRAMs manufactured in 130 nm, 90 nm and 65 nm CMOS processes. For this purpose, radiation tests with 14.2 MeV neutrons were performed f[...]
