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Ramírez, J. G. ; Schmidt, Rainer ; Sharoni, A. ; Gómez, M. E. ; Schuller, Ivan K. ; Patiño, Edgar J. | American Institute of Physics | 2013-02-11Temperature dependent dielectric spectroscopy measurements on vanadium dioxide thin films allow us to distinguish between the resistive, capacitive, and inductive contributions to the impedance across the metal-insulator transition (MIT). We dev[...]
