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Harris, V. G. ; Das,, B.N. ; Woicik, J. C. ; Crespo del Arco, Patricia ; Hemando, A. ; Garcia Escorial, A. | Editions Physique | 1997-04A least-square fitting analysis of EXAFS data collected from partially-crystallized Fe_80B_20 thin films (t=15 nm), using data collected from pure phase standards of the crystallization products, was found effective in determining the relative a[...]
