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Cremades Rodríguez, Ana Isabel ; Gorgens, L. ; Ambacher, O. ; Stutzmann, M. ; Scholz, F. | American Physical Society | 2000-01-15Structural and optical properties of Si-doped GaN thin films grown by metal-organic chemical vapor deposition have been studied by means of high resolution x-ray diffraction (XRD), atomic force microscopy, photoluminescence, photothermal deflect[...]
